邊界掃描

產(chǎn)品介紹：

      邊界掃描設(shè)備主要用于對(duì)電路產(chǎn)品的整個(gè)生命周期內(nèi)進(jìn)行設(shè)計(jì)、監(jiān)測(cè)和調(diào)試，并精準(zhǔn)定位故障。我公司推出 BSBeach 邊界掃描設(shè)備，BSBeach 給開(kāi)發(fā)者和測(cè)試工程師充分釋放了邊界掃描的潛能，能幫助您在整個(gè)產(chǎn)品生命周期中加速設(shè)計(jì)和開(kāi)發(fā)進(jìn)程，改善調(diào)試和測(cè)試手段。 
      BSBeach 是一個(gè)由軟件和硬件產(chǎn)品構(gòu)成的測(cè)試套件，它使您方便、快捷地對(duì)電路板進(jìn)行調(diào)試、測(cè)試和編程。該系統(tǒng)與兼容 IEEE1149.1 邊界掃描標(biāo)準(zhǔn)的器件一同工作。 
BSBeach 測(cè)試系統(tǒng)組件有： 
    - 硬件：JTAG 控制器

    - 軟件：BSBeach 軟件
    - USB 到 JTAG 連接器 
    - 集成第三方測(cè)試運(yùn)行程序

主要功能：

    - BSBeach支持 IEEE-1149.1 邊界掃描測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，可實(shí)現(xiàn)邊界掃描器件的互連測(cè)試，上下拉電阻測(cè)試，以及自定義的簇測(cè)試； 
    - 測(cè)試向量生成和運(yùn)行 ；
    - 測(cè)試配套軟件可以滿足設(shè)計(jì)者對(duì)待測(cè)試模塊的特定測(cè)試要求,提供設(shè)計(jì)者進(jìn)行測(cè)試鏈路設(shè)計(jì)、測(cè)試器件選取和管腳電平約束等操作的界面，再根據(jù)導(dǎo)入的待測(cè)試模塊文件資料生成測(cè)試向量用于邊界掃描測(cè)試。

主要技術(shù)參數(shù)：

    - 硬件TAP控制器

• 輸入接口：0；
• 輸出接口：1路JTAG接口；
• 電壓：電壓3V可調(diào)，送參考電平板子
• TAP控制器最大TCK頻率：30MHz。

    - 軟件

• 支持STD_1149_1_1990、STD_1149_1_1994、STD_1149_1_2001、標(biāo)準(zhǔn)的BSDL文件；
• 互連信號(hào)線開(kāi)短路故障定位；
• 上下拉電阻故障定位；
• DDR芯片引腳開(kāi)故障定位；
• 具備Debug功能，斷點(diǎn)設(shè)置，單步運(yùn)行，Pin腳電平設(shè)置；
• 支持第三方應(yīng)用開(kāi)發(fā)軟件調(diào)用，執(zhí)行自動(dòng)測(cè)試；
• 軟件永久授權(quán)，可在不同的計(jì)算機(jī)上授權(quán)使用；
• 支持運(yùn)行SVF向量文件。